Krótka charakterystyka firmy ThetaMetrisis
Firma ThetaMetrisis S.A. została założona przez doktorów optyki i inżynierii sensorów w grudniu 2008 roku w Atenach jako firma spin off wydzielona z Instytutu Mikroelektroniki Narodowego Centrum Badań Naukowych Demokritos.
Firma koncentruje sie na projektowaniu i produkcji optycznych urządzeń pomiarowych do określania parametrów układów cienkich i grubych warstw, takich jak grubość, współczynnik odbicia, absorpcji, transmisji, oraz współczynnik Hazego. Metodyka pomiarów bazuje na nowatorskiej technice Spektroskopii Odbitego Światła Białego (WLRS) rozwijanej w Instytucie Mikroelektroniki przez założycieli ThetaMetrisis.
ThetaMetrisis S.A. projektuje i dostarcza szeroki wachlarz urządzeń optoelektronicznych stosowanych zarówno w nauce jak i przemyśle a w szczególności w zastosowaniach dotyczących:
– półprzewodników,
– elektroniki organicznej,
– polimerów,
– analizy cienkich warstw,
– fotowoltaiki,
– biosensorów,
– sensorów chemicznych.
Aby się dowiedzieć więcej, wejdź na stronę producenta.
- FR – Basic – urządzenie do optycznych pomiarów warstw takich jak grubość, współczynnik załamania, pochłaniania, transmisji światła, fluorescencja
- FR – Mapper – rozwinięcie systemu FR – Basic. Urządzenie to pozwala na automatyczne określenie grubości, własności optycznych czy szorstkości warstwy lub układu wielowarstwowego na wybranym obszarze lub na całej powierzchni
- FR – mProbe – tani mikrospektroskop dla określenia parametrów warstw (grubość, własności optyczne) i do standardowych pomiarów optycznych na małych obszarach
- FR – Thermal – będący szczególną konfiguracją urządzenia FR – Basic dla charakteryzacji parametrów warstw ( grubość, własności optyczne) in-situ w trakcie kontrolowanej obróbki cieplnej
- FR – Monitor – oprogramowanie służące do obsługi wszystkich urządzeń serii FR. Użytkownik może wybrać pomiar pojedynczy lub zapisywać dynamicznie w czasie rzeczywistym odbywającego się pomiaru grubość i inne wielkości optyczne
- FR- Liquid – konfiguracja urządzenia FR – Basic dla charakteryzacji parametrów warstw ( grubość, własności optyczne) podczas pomiarów w cieczy
- FR – pOrtable – przenośne urządzenie dla dokładnych i precyzyjnych pomiarów wielkości optycznych warstw przeźroczystych i półprzeźroczystych, a także układów wielowarstwowych
- FR – Education – tania uproszczona wersja FR – Basic, która jest idealna dla uniwersyteckich pracowni kształcących studentów. Urządzenie mierzy grubość i własności optyczne (pochłanianie, transmisja, załamanie światła) warstw
- Również oferujemy szeroki wachlarz akcesoriów dodatkowych zapewniających spełnienie szczególnych wymagań użytkownika takich jak uchwyt kuwet, uchwyty specjalne zgodne z żądaniem użytkownika, filtry optyczne, czujniki zewnętrzne, komory gazowe i inne.
- PM – QE – modułowy układ do określania własności wszystkich typów ogniw słonecznych takich jak wydajność kwantowa fotogeneracji, grubość poszczególnych warstw w układzie wielowarstwowym i innych parametrów
- PM – Haze – urządzenie pozwalające na dokładne pomiary transmisji całkowitej (TT) i dyfuzyjnej (DT) w widmie (zakres od 400 do 900 nm) dla układów wielowarstwowych naniesionych na szkło lub krzem.