NanoWizard® 4 BioScience AFM System


NanoWizard Bioscience

NanoWizard® 4 BioScience AFM – zastosowania w naukach biologicznych

Nowy NanoWizard® 4 BioScience AFM jest najnowszą generacją systemu AFM (mikroskop sił atomowych), łączącego rozdzielczość na poziomie atomowym z dużą szybkością skanowania aż do 70Hz tj. linii na sekundę dla skanera 100 μm. System posiada również najniższy poziom szumów dla wszystkich komponentów AFM takich jak skaner z zamkniętej pętlą sprzężenia zwrotnego , czy system detekcji ugięcia. Główne elementy nowego systemu cechują się najwyższą przepustowością, precyzyjną kontrolą siły, oraz szybkim feedbackiem – nawet dla skanera 100 μm. Dzięki zastosowaniu Experiment Control ™ kontrola złożonych i długotrwałych eksperymentów może być przeprowadzana za pomocą komputera, tableta, czy smartfona. Funkcja kreatora filmów ułatwia w znaczący sposób proces zbierania danych. Zastosowanie algorytmów kalibracji, wizualizacji i bardziej ergonomicznego interfejsu użytkownika, w znacznym stopniu podnosi komfort pracy. Ruch liniowy w kierunkach góra/dół wraz z wykorzystaniem danych siłowych dla każdego piksela umożliwia pomiar m.in.: elastyczności, adhezji, sił chemicznych. Dodatkowym atutem jest dostępność szerokiej gamy akcesoriów co sprawia, że obrazowanie próbek w cieczach w kontrolowanych warunkach otoczenia jest łatwiejsze niż kiedykolwiek. Zastosowanie unikalnego skanera dźwigni sprawia, że opisany system jest wyjątkowo elastyczny.

  • System dostarczany jest z  QI™ quantitative imaging mode  – nowy tryb obrazowania krzywej siłowej dla najbardziej wymagających próbek w standardzie.
  • Doskonała integracja z zaawansowanymi metodami optycznymi (FLIM, FCS, FRET, Raman, etc.) i mikroskopami super rozdzielczymi (SIM, STED, czy PALM/STORM)

  • Ulepszone oprogramowanie DirectOverlay™ do bezpośredniej korelacji pomiędzy danymi optycznymi a AFM

  • Optymalne obrazowanie w powietrzu i cieczy dla pojedynczych molekuł i komórek biologicznych
  • HyperDrive™ zapewnia super rozdzielczość dla miękkich próbek w cieczy

  • Rozszerzona elasyczność i modularność w najszerszym zakresie trybów pracy

  • Oprzyrządowanie do zastosowań w zakresie od elektrochemii do elektroniki organicznej

  • Rozszerzona elastyczność w najszerszym zakresie trybów pracy i akcesoriów z kontrolerem Vortis™ i aktualnym oprogramowaniem NanoWizard®

  • Próbki o dużych rozmiarach – możliwe obrazowanie za pomocą skanera zintegrowanego z dźwignią
  • Obrazowanie w cieczach chemicznych i biologicznych

  • Pomiary w zmieniających się temperaturach i z możliwością przepłukiwania

  • Duże pole skanowania do 100×100×15 µm3 z dużą pętlą sprzężenia zwrotnego dzięki zastosowaniu sensorów pojemnościowych

  • Idealne narzędzie do zastosowań w naukach biologicznych i biotechnologii

  • Szeroki wybór trybów i akcesoriów
  • Zastosowanie unikalnych rozwiązań nanomechanicznych

 

więcej…

 

jpk2

Informacje o produkcie:

Adobe icon Broszura produktu

Adobe iconBroszura akcesoriów

Adobe iconBroszura – tryb QI

▬ Galeria obrazów

▬ Uwagi techniczne na temat zastosowań

▬ Historie użytkowników
▬ Akcesoria

Tryby i zastosowania:

Tryby podstawowe: łatwy w użyciu tryb QI™ mode do obrazowania ilościowego, tryb kontaktowy z mikroskopią sił poprzecznych (LTF – Lateral Force Microscopy), tryby AC (AC mode) z detekcją fazy, spektroskopia statyczna i dynamiczna, mapowanie FF (Fast Force). Tryb QI  zapewnia najwyższą rozdzielczość dla pojedynczych molekuł, żywych komórek i tkanek. Udoskonalona regulacja siły sprawia, że system jest idealnym rozwiązaniem dla materiałów kruchych, delikatnych, miękkich, czy lepkich.

Tryby dodatkowe: opcja dużej szybkości skanowania aż do 70 linii na sekundę, , QI™-Advanced mode do danych ilościowych (mapowanie przewodności i dystrybucji ładunków, obrazowanie punktu kontaktowego CPI z siłą zerową, badanie mechanicznych właściwości takich jak: adhezja,elastyczność, sztywność czy deformacja, rozpoznawanie obrazowania molekularnego), HyperDrive (zapewnia super rozdzielczość dla miękkich próbek w cieczy), zaawansowane tryby AC (modulacja fazy, częstotliwości z aktywną tontrolą wzmocnienia, oraz Q-Control), obrazowanie wyższej harmonicznej, mikrorerologia, KPM (mikroskopia z sondą Kelwina), PFM (mikroskopia piezoresponsywna), procesy elektrochemiczne z regulacją temperatury i mikroskopią optyczną, Nanolitografia, Nanomanipulacja, Nanoindentacja, SCM (skaningowa mikroskopia pojemnościowa), MFM (mikroskopia sił magnetycznych), EFM (mikroskopia sił elektrostatycznych), Conductive AFM (mikroskopia z przewodzącą sondą), STM (skaningowa mikroskopia tunelowa), skaningowa mikroskopia termiczna, planowanie przepływu pracy (JPK ExperimentPlanner), projektowanie krzywych siłowych(JPK RampDesigner™ ),zdalna kontrola i monitorowanie złożonych i długotrwałych eksperymentów (ExperimentControl), kontrola środowiska pomiarowego, DirectOverlay™ (nakładanie obrazów AFM na obrazy optyczne), możliwość dodatkowego przesuwania próbki w kierunkach xy i z.

 

Animacja ruch skanera NanoWizard®