Wróć do strony domowej

MeasLine - unikalne i standardowe rozwiązania badawcze i przemysłowe.

MeasLine - unikalne i standardowe rozwiązania badawcze i przemysłowe.

  • Strona główna
  • Produkty
    • (AFM) Mikroskopia sił atomowych
    • Systemy nanoszenia warstw
      • • Seria QPREP
      • • Seria M
      • • Seria QUBE - Systemy MBE
      • • NANOSYS500
      • • Parowniki, źródła, krakery, komórki efuzyjne, magnetrony
    • Pomiary optyczne
      • • MTF - Pomiar funkcji przenoszenia modulacji
      • • OHM 150 - Pomiar wysokości
      • • COMEF - System przetwarzania obrazu
      • • MR 200 - Nacinacz wafli krzemowych
      • • DGMS – System pomiarowy geometrii ciągadeł
      • • DIM i DDI - Inspekcja wizualna i pomiary ciągadeł
      • • RINGMASTER - Pomiar matryc, przewężeń, itp.
    • Pomiar geometrii
      • • FLATSCAN - Bezkontaktowe pomiary powierzchni
      • • CAS - Pomiar płaskości powierzchni
      • • ELCOWIN - Optyczna kontrola jakości
    • Analiza powierzchni
      • • STREAM SPM
      • • Niskotemperaturowy SPM
      • • Rozwiązania Sigma ESCA
    • Analiza cienkich warstw
      • • Seria FR
      • • Seria PM
    • Kąt zwilżania
      • • SURFTENS HL
      • • SURFTENS AUTOMATIC
      • • SURFTENS UNIVERSAL
    • Testowanie soczewek
      • • OTS - Testowanie soczewek
      • • OTS-Z - Testowanie soczewek cylindrycznych
    • Komponenty próżniowe
      • • Komponenty próżniowe
    • Czyszczenie powierzchni
      • • Oczyszczacze plazmowe
    • Rozwiązania MeasLine
      • • System nanoszenia cienkich warstw współpracujący z komorami rękawicowymi
  • Usługi
    • Opracowania i projekty
      • • Nowatorskie opracowania
      • • Projekty na życzenie
    • Szkolenia
      • • Szkoła Techniki Próżniowej
      • • Technika próżniowa
  • Baza wiedzy
    • Analiza grubości warstw
      • • Interferometria Światła Monochromatycznego
      • • Metodyka pomiarów optycznych
      • • Spektroskopia Odbitego Światła Białego
    • Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
      • • Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
    • Mikroskopia sił atomowych
      • • Mikroskopia Sił Atomowych
      • • Spektroskopia Ramanowska, SERS, TERS
  • MeasLine
    • O firmie MeasLine
    • Wyróżnienia i nagrody
    • Aktualności
  • Kontakt

FR – p0rtable: broszura informacyjna

17 Paź, 2016 przez Paweł Łukasik

Download2
Stock∞
File Size738.05 KB
Create Date17 października 2016
Download

MeasLine

ul. Piłsudskiego 3

32-050 Skawina

Tel.: +48 12 307 2980

Tel.: +48 793 281 470

Kontakt

Email: info(at)measline.com

Nasi partnerzy

  • JPK Instruments AG
  • MANTIS Deposition LTD.
  • Sigma Surface Science GmbH
  • OEG GmbH
  • ThetaMetrisis S.A.
  • PTP

· © 2018 MeasLine · Designed by Paweł Łukasik ·
Ta strona używa plików cookies. Dowiedz się więcej.

Powrót na górę

  • Strona główna
  • Produkty
    • (AFM) Mikroskopia sił atomowych
    • Systemy nanoszenia warstw
      • • Seria QPREP
      • • Seria M
      • • Seria QUBE – Systemy MBE
      • • NANOSYS500
      • • Parowniki, źródła, krakery, komórki efuzyjne, magnetrony
    • Pomiary optyczne
      • • MTF – Pomiar funkcji przenoszenia modulacji
      • • OHM 150 – Pomiar wysokości
      • • COMEF – System przetwarzania obrazu
      • • MR 200 – Nacinacz wafli krzemowych
      • • DGMS – System pomiarowy geometrii ciągadeł
      • • DIM i DDI – Inspekcja wizualna i pomiary ciągadeł
      • • RINGMASTER – Pomiar matryc, przewężeń, itp.
    • Pomiar geometrii
      • • FLATSCAN – Bezkontaktowe pomiary powierzchni
      • • CAS – Pomiar płaskości powierzchni
      • • ELCOWIN – Optyczna kontrola jakości
    • Analiza powierzchni
      • • STREAM SPM
      • • Niskotemperaturowy SPM
      • • Rozwiązania Sigma ESCA
    • Analiza cienkich warstw
      • • Seria FR
      • • Seria PM
    • Kąt zwilżania
      • • SURFTENS HL
      • • SURFTENS AUTOMATIC
      • • SURFTENS UNIVERSAL
    • Testowanie soczewek
      • • OTS – Testowanie soczewek
      • • OTS-Z – Testowanie soczewek cylindrycznych
    • Komponenty próżniowe
      • • Komponenty próżniowe
    • Czyszczenie powierzchni
      • • Oczyszczacze plazmowe
    • Rozwiązania MeasLine
      • • System nanoszenia cienkich warstw współpracujący z komorami rękawicowymi
  • Usługi
    • Opracowania i projekty
      • • Nowatorskie opracowania
      • • Projekty na życzenie
    • Szkolenia
      • • Szkoła Techniki Próżniowej
      • • Technika próżniowa
  • Baza wiedzy
    • Analiza grubości warstw
      • • Interferometria Światła Monochromatycznego
      • • Metodyka pomiarów optycznych
      • • Spektroskopia Odbitego Światła Białego
    • Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
      • • Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
    • Mikroskopia sił atomowych
      • • Mikroskopia Sił Atomowych
      • • Spektroskopia Ramanowska, SERS, TERS
  • MeasLine
    • O firmie MeasLine
    • Wyróżnienia i nagrody
    • Aktualności
  • Kontakt