NanoWizard® 4 NanoOptics


NanoOptics

NanoWizard® 4 NanoOptics

Nowy NanoWizard 4 NanoOptics AFM (mikroskop sił atomowych) został zoptymalizowany pod kątem wielu zastosowań począwszy od obrazowania optycznego w nanoskali np. SNOM aż do eksperymentów obejmujących oddziaływanie światła z próbką takich jak absorpcja, wzbudzenie, efekty nieliniowe czy też quenching. Możliwość rozbudowy mikroskopu gwarantuje użytkownikowi bezpieczeństwo inwestycji, a fakt że serwisem i wsparciem zajmuje się zespół doświadczonych naukowców jest dodatkowym plusem.

  • Wszechstronne rozwiązania dla spektroskopii AFM i Ramana, TERS, SNOM, sSNOM, mikroskopii konfokalnej i nanomanipulacji w polu optycznym

  • Unikalna integracja z mikroskopią optyczną zapewniona dzięki zastosowaniu specjalnej konstrukcji ostrza i skanera próbki, trybu DirectOverlay, systemu detekcji ugięcia dźwigni (980nm) i specjalnego zestawu filtrów
  • AFM zaprojektowany z myślą o doskonałym obrazowaniu w powietrzu, cieczach nanopnanooptics
  • idealnej stabilności, szczególnie dla zastosowań BioTers
  • Liczne tryby i akcesoria zapewniają doskonałą elastyczność systemu

Połączenie AFM i innych technik

Firma JPK stara się łączyć różne techniki: szczególnie AFM z optyką. Otwiera to szerokie pole dla nowych zastosowań, takich jak: TERS/SERS, fluorescencja wzmacniana tipem (tip-enhanced fluorescence), nanomanipulacja światłem, chemiczna analiza powierzchni i wykrywanie związków chemicznych (compound detection), metamateriały, oraz w rozwoju aktywnych optycznie komponentów, takich jak: barwniki, markery, źródła światła, itp. Liczba tych zastosowań ciągle rośnie, co więcej na podstawie dużej liczby publikacji, można stwierdzić że podejście polegające na łączeniu różnych technik staje się coraz bardziej popularne dzięki poszerzeniu możliwości badawczych. Stabilność i powtarzalność pozycjonowania ostrza SPM i skanowania jest kluczowa w wypadkach zastosowań wymagających zbierania pojedynczych fotonów przez długi czas. System NanoWizard 4 NanoOptics został zoptymalizowany pod tym względem. Najwyższa częstotliwość rezonansowa skanera osi Z uzyskiwana w tego typu rozwiązaniach i usprawniona regulacja przy zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego dla 5 lub 6 osi zapewniają poziom wydajności skanera wcześniej niedostępny dla innych, komercyjnych systemów AFM. Pozwala to osiągnąć najwyższą jakość danych obrazowania i pomiarów siły w powietrzu i cieczach.

Zastosowanie wszechstronnego kontrolera Vortis pozwala na osiągnięcie bardzo niskiego poziomu szumów i szybkości zbierania danych. Zaawansowana elektronika i oprogramowanie do kontroli wielu sprzężeń zwrotnych, najszersze pasmo i dostępność do wielu sygnałów w połączeniu z możliwością użycia własnych skryptów są głównymi elementami, które w znaczący sposób podnoszą komfort pracy podczas przeprowadzania badań. Synchronizacja danych AFM i spektrometru odbywa się poprzez prosty interfejs. Wykorzystanie bariery pary w postaci kapsułkowanych piezo napędów i wielu dedykowanych komórek cieczowych, sprawia że NanoWizard idealnie nadaje się do zastosowań w cieczach. System może być również używany w powietrzu i kontrolowanym środowisku gazowym. Duża elastyczność oprogramowania i szeroka gama akcesoriów, sprawia, że system jest gotowy do wykorzystania w każdym, zdefiniowanym przez użytkownika eksperymencie. Nowo zaprojektowana jednostka detekcji, przeznaczona do czułych detektorów takich jak APD i PMT, daje idealne rezultaty pod względem tłumienia światła rozproszonego.

Zaawansowane techniki fluorescencji i skorelowane w czasie zliczania pojedynczych fotonów (TCSPC)

Zaawansowane techniki fluorescencji i TCSPC są uzupełnieniem metod AFM, takich jak epifluorescencja, konfokalna laserowa mikroskopia skaningowa, TIFR, FRET, FCS, FLIM, FRAP, STORM, PALM, STED, spinning disc, itp. i pozwalają na obserwację lub pomiar konkretnych cech.

Teraz możliwe jest  jednoczesne połączenie obrazowania i pomiarów siły AFM z tymi metodami optycznymi dla tego samego miejsca próbki.

Połączenie Spektroskopii Ramana i AFM (TERS)

Systemy z serii NanoWizard są urządzeniami przystosowanymi do łączenia spektroskopii Ramana z AFM. Pozwala to na bezpośrednią integrację metod AFM i spektroskopii Ramana bez spadków w wydajności i możliwości badawczych żadnej z technik.

Połączenie spektroskopii Ramana i AFM pozwala na jednoczesną korelację danych wynikowych obu technik. Konwencjonalna spektroskopia Ramana wraz z AFM umożliwia połączenie informacji chemicznych z właściwościami powierzchni uzyskanymi za pomocą AFM. W celu przeprowadzenia analizy o najwyższym rozkładzie przestrzennym w przedziale nanometrowym, TERS wykorzystuje wzmacniające cechy plazmonów powierzchniowych ostrza skanera w spektroskopii Ramana. Pokryte metalem ostrze AFM/STM jest wykorzystywane jako wzmacniacz pola podczas skanowania próbki. W rezultacie otrzymuje się wzmocniony sygnał Ramana o rozdzielczości lateralnej zbliżonej do średnicy końcówki ostrza oraz informacje o powierzchni uzyskane za pomocą ostrza AFM.

 

 

więcej…

jpk2

Informacje o produkcie:

Adobe icon Broszura produktu

Adobe icon Broszura akcesoriów

Adobe icon Broszura – tryb QI

▬ Galeria obrazów

▬ Uwagi techniczne na temat zastosowań

▬ Historie użytkowników
▬ Akcesoria

▬ Inne produkty firmy JPK można znaleźć tutaj

 

Kluczowe komponenty i podstawowe parametry eksperymentów Ramana/TERS/BIOTERS
Kombinacja ostrza i skanera próbki
• Głowica NanoWizarda (3 osie skanowania) i moduł skanera próbek TAO (2 lub 3 osie skanowania) zmocowany na mikroskopie odwróconym, zintegrowane ze spektroskopem Ramana
Tłumienie przesłuchów optycznych pomiędzy AFM i sygnałem/wzbudzeniem Ramana
• Źródło lasera AFM - 980nm
• Filtry blokujące i czyszczące w głowicy AFM
Długotrwała stabilność AFM
• Wysoka wydajność skanerów w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego, oraz symetryczny design stolika i głowicy AFM
• Komórki cieczy oparte na szkiełku nakrywkowym z regulacją temperatury i i wymiana cieczy dla najwyższej stabilności w połączeniu z obiektywami immersyjnymi
Integracja systemu
• Synchronizacja pomiędzy ostrzem AFM i pozycją próbki wraz z oprogramowaniem firmy JPK do rejestracji sygnału Ramana
• Sprawdzony algorytm firmy JPK do wyszukiwania idealnej pozycji ostrza w zakresie ostrości obiektywu o wysokiej aperturze numerycznej (high-NA)
Elastyczność
• Duża różnorodność trybów operacji AFM/SPM
• Zaawansowany kontroler Vortis z najwyższą szybkością i najniższym poziomem szumów o dużej liczbie kanałów dostępnych z przedniego panelu Signal Access
• Łatwe w użyciu, w pełni funkcjonalne oprogramowanie firmy JPK do zaawansowanych eksperymentów idealne zarówno dla zaawansowanych jak i początkujących użytkowników
• Raman Reflector Kit dla zastosowań TERS w przypadkach próbek nieprzezroczystych

 

Opcje i akcesoria

NanoWizard 4 NanoOptics może być używany w wielu konfiguracjach, co w znaczący sposób rozszerza zastosowania tego systemu. Można również zastosować wiele różnych głowic, takich jak ForceRobot 300, czy CellHession 200.

 

Główne cechy
• Głowica dostępna w dwóch wersjach
- UV transparency – do oświetlania próbki z góry za pomocą światła UV
- Fiber port – do zastosowań fiber SNOM
• QI™ quantitative imaging mode dla najbardziej wymagających próbek do analizy za pomocą AFM
• Kompletne rozwiązania dotyczące połączenia AFM i spektroskopii Ramana, Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS), Aperture SNOM i Scattering-type SNOM (sSNOM), mikroskopia konfokalna oraz NanoManipulacja w polu optycznym
• Kompatybilny z większością komercyjnie dostępnych mikroskopów odwróconych takich jak (Zeiss Axiovert oraz Axio Observer lines, Nikon TE i Ti lines, Olympus IX line oraz Leica DMI line)
• Uniklana itegracja z mikroskopami optycznymi poprzez umożliwienie skanowania zarówno tipem jak i próbką, DirectOverlay™ mode oraz smart engineering
• Bezproblemowa integracja z mikroskopami odwróconymi, spektrometrami Ramana oraz systemami zliczania fotonów
• Najwyższa stabilność i najmniejszy dryft dla czasochłonnych eksperymentów
• Możliwe skanowanie z zamkniętą pętlą aż do 6 osi (3 dla tipu i 3 dla próbki) z modułem TAO
• Zaprojektowany pod kątem optymalnej pracy zarówno w powietrzu jak i cieczy z doskonałą rozdzielczością, małymi szumami i maksymalną wszechstronnością
• Rozszerzona elastyczność w najszerszym zakresie trybów pracy i akcesoriów z kontrolerem Vortis™ i aktualnym oprogramowaniem NanoWizard
• Zastosowany laser 980nm służacy do detekcji wychylenia dźwigni zapobiega nakładaniu się efektów pochodzących od innych długości fal
• Szeroki zakres trybów pracy i komponentów takich jak np. Tuning Fork, STM, przewodzący AFM, Fiber SNOM
• Idealny do zastosowań w nanotechnologii i biotechnologii

 

Zachęcamy również do zapoznania się z działem „Baza wiedzy”, w którym znajdą Państwo wiele innych, ciekawych informacji.

Animacja ruch skanera NanoWizard®