NanoWizard® 4 NanoScience AFM system


NanoScience

NanoWizard® 4 NanoScience AFM – Atomowa rozdzielczość i szybkość skanowania

Atomowa rozdzielczość i szybkość skanowania

Nowy NanoWizard® 4 NanoScience AFM (mikroskop sił atomowych) jest doskonałym narzędziem w zakresie od obrazowania pojedynczej molekuły, polimerów, nanocząstek oraz materiałów do pomiarów elektrycznych, optycznych, elektrochemicznych i mechanicznych w kontrolowanym środowisku.

NanoWizard® 4a NanoScience AFM łączy atomową rozdzielczość w trybie zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego i szybkość skanowania (do 3 sek/obraz) w systemie z dużym zakresem skanowania (100µm dla XY). Posiada również najniższy poziom szumów układu skanera (pętla zamknięta) oraz systemu detekcji ugięcia. Wydajny kontroler Vortis A zapewnia szybką obsługę sygnałów i najniższy szum.

Tryb QI – łatwe obrazowanie każdej próbki

Tryb QI oparty na rzeczywistych krzywych siłowych jest idealnym rozwiązaniem dostarczającym łatwo i szybko dane o najwyższej rozdzielczości. Doskonała czułość i kontrola siły sprawia, że rozwiązanie to bardzo dobrze sprawdza się w przypadkach próbek kruchych, delikatnych, miękkich i lepkich. Dzięki zastosowaniu technologii Wizard, system jest jeszcze bardziej przystępny dla użytkownika.

Elastyczność i modułowa konstrukcja

Unikalna technologia skaner-ostrze oraz modułowa konstrukcja i duża liczba trybów i akcesoriów sprawia że NanoWizard 4 jest najbardziej elastycznym systemem AFM dostępnym na rynku.

Wyjątkowa szybkość skanowania w połączeniu z dużym zakresem skanera

Opcja NanoWizard ULTRA Speed, jest już dostępna dla systemu NanoWizard 4, co pozwala osiągnąć dużą szybkość skanowania aż do 70Hz tj. linii na sekundę – czyli ponad 30 razy szybciej od innych systemów BioAFM. Główne elementy nowego systemu cechują się najwyższą przepustowością, precyzyjną kontrolą siły, oraz szybkim sprzężeniem zwrotnym – nawet dla skanera 100 μm. Funkcjonalność rozszerzona o kreator filmów w znaczący sposób ułatwia proces zbierania danych.

Duża szybkość skanowania
• Zwiększa produktywność
• Umożliwia przeprowadzenie szybkiego badania danej próbki
• Pozwala na obserwację zmian zachodzących w próbce w czasie rzeczywistym
• Daje możliwość przeprowadzenia badań typu time-lapse na polimerach, cienkich warstwach, nowoczesnych materiałach, etc.

Obserwacja zmian dynamicznych próbki w czasie rzeczywistym

Duża szybkość skanowania zapewniana przez najnowszą generację systemu NanoWizard pozwala uzyskać w czasie rzeczywistym dokładne dane dotyczące takich zjawisk jak m.in. krystalizacja, wzrost, topnienie czy separacje fazy w najwyższej rozdzielczości przestrzennej.

Zastosowanie unikalnego skanera ostrza, umożliwia obserwację zmian zachodzących na próbce podczas ogrzewania, ochładzania, przykładania zewnętrznej siły mechanicznej, oraz wymianie gazowej i cieczy.

Tryby standardowe
Tryby obrazowania
• Łatwy w użyciu tryb QI dla obrazowania ilościowego
• Tryb kontaktowy z mikroskopią sił lateralnych (LFM)
• Tryby AC z detekcją fazy
Pomiary siły
• Spektroskopia statyczna i dynamiczna
• Szybkie mapowanie siły

Tryby dodatkowe
• Opcja szybkiego skanowania (np. 1 obraz na 3 sekundy)
• Zaawansowany tryb QI dla danych ilościowych:
- Właściwości mechaniczne, takie jak: adhezja, elastyczność, sztywność, deformacja
- Przewodność i mapowanie rozkładu ładunków
- Obrazowanie punktu kontaktowego (CPI) z siłą zerową
- Obrazowanie rozpoznawania molekularnego do mapowania miejsca wiązania
• Tryb HyperDrive przeznaczony do obrazowania w płynach w najwyższej rozdzielczości
• Zaawansowane tryby AC, takie jak: modulacja częstotliwości i fazy z Q-control i AGC
• Obrazowanie wyższej harmonicznej
• Mikroreologia
• Mikroskopia z sondą Kelvina i SCM
• MFM i EFM (zobacz również: tryb QI)
• AFM z sondą przewodzącą (zobacz również: tryb QI)
• STM
Tryby spektroskopii elektrycznej
• Spektroskopia piezo-responsywna
• Kontrola termiczna i elektrochemiczna wraz z mikroskopią optyczną
• NanoLitografia i NanoManipulacja
• Nanoindentacja
• Skaningowa mikroskopia termiczna AFM (SThM)
• ExperimentPlanner do planowania pracy
• RampDesigner przeznaczony do zastosowań spektroskopii siłowej
• ExperimentControl do zdalnego przeprowadzania eksperymentów
• Opcje do kontroli środowiska
• DirectOverlay do łączonej mikroskopii optycznej i AFM
• Możliwość poruszania próbką w osiach XY lub Z dzięki modułom: CellHesion, TAO i HybridStage

 

więcej…

jpk2

Informacje o produkcie:

Adobe icon  Broszura produktu

Adobe icon Broszura akcesoriów

Adobe icon Broszura – tryb QI

Galeria obrazów

Uwagi techniczne na temat zastosowań

Historie użytkowników

▬ Akcesoria

▬ Inne produkty firmy JPK można znaleźć tutaj

 

Szybsze skanowanie – większa wydajność

Dzięki zastosowaniu opcji szybkiego skanowania i modułu oprogramowania ExperimentPlanner użytkownik może badać więcej miejsc znajdujących się w zasięgu skanera a za pomocą stolika z napędem można w łatwy sposób przejść do kolejnego, nawet odległego obszaru skanowania. JPK dostarcza kompletny zestaw metod potrzebnych przy charakterystyce właściwości mechanicznych, takich jak twardość, lepko-sprężystość, czy adhezja. System jest również idealnym rozwiązaniem dla materiałów delikatnych, miękkich, czy będących pod wpływem zewnętrznego obciążenia mechanicznego.

Charakterystyka ilościowa właściwości mechanicznych

Za pomocą nowego systemu można w sposób prosty i dokładny mapować parametry mechaniczne. Zaawansowany tryb QI firmy JPK wraz ze swoim ruchem liniowym w kierunkach góra/dół i pełnym zestawem danych siłowych dla każdego piksela pozwala na wyznaczenie danych ilościowych takich jak: elastyczność, adhezja, dyssypacja, siły chemiczne, czy przewodność. Bardzo szybka, automatyczna regulacja w osi Z została stworzona z myślą o próbkach wypukłych, i szorstkich. Udoskonalone możliwości analizy danych – w szczególności modułu Younga (z wieloma modelami do wyboru) w znaczny sposób ułatwiają pracę. NanoWizard 4 posiada również tryby takie jak szybkie mapowanie siły lub spektroskopia pojedynczej komórki.

Pełen zestaw trybów pracy do nanomechaniki
• Zaawansowany tryb QI i obrazowanie punktu kontaktu z powierzchnią (CPI)
• Tryb obrazowania CR (Contact Resonance)
• Modulacja amplitudy (AM), fazy (PM) i częstotliwości (FM)
• Obrazowanie wyższej harmonicznej
• Mikroreologia
• Modulacja siły
• Mikroskopia siły tarcia (FFM)
• Szybkie mapowanie siły
• Spektroskopia pojedynczej molekuły
• Próbnik koloidalny
• Nanoindentacja
• Nanomanipulacja
• Zmiany właściwości próbki będącej pod wpływem obciążeń mechanicznych (razem z StretchingStage)

Łatwe uzyskiwanie wysokiej jakości obrazów

Dzięki udoskonalonemu trybowi QI tylko cztery kliknięcia dzielą użytkownika od uzyskania doskonałej jakości obrazów o najwyższej rozdzielczości. Tryb ten jest oparty na rzeczywistych krzywych siłowych, dzięki czemu informacje dotyczące oddziaływań mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych, chemicznych i biologicznych są bardziej precyzyjne i łatwiejsze do analizy.

Mikroskopia z przewodzącą sondą (C-afm) razem z Zaawansowanym trybem QI
• Pomiar prądu (opcja) od 0,1 do 10μA
• Limit szumów w paśmie obrazowania: 100 fA RMS
• Zastosowanie trybu QI jest odpowiednim rozwiązaniem dla próbek kruchych i luźnych

Mikroskopia z sondą Kelvina (KPM-AFM)
• Pomiary elektrycznego potencjału powierzchniowego

Automatyczne planowanie pracy z HybridStage

HybridStage jest nowo opracowanym, modułowym, stolikiem ze skanerem próbek z napędem umożliwiającym ruch próbki w osiach X i Y. Pozwala on osiągnąć dużą powierzchnię mapowania mikrosfer/kapsuł, mikro/nano/3D struktur dla odległości powyżej milimetra. HybridStage w połączeniu z oprogramowaniem ExperimentPlanner gwarantuje łatwą automatyzację pomiarów.

Ergonomia i prostota w przeprowadzaniu operacji

Nowo opracowany i bardziej ergonomiczny interfejs użytkownika, zwiększa intuicyjność, a duży ekran zapewnia większy komfort pracy. Wiele łatwych w użyciu funkcji i zapewnione wsparcie dla klientów, sprawia że NanoWizard 4 jest idealnym rozwiązaniem zarówno dla ekspertów jak i początkujących.

Pełna kontrola eksperymentów

Dzięki zastosowaniu oprogramowania ExperimentPlanner i unikalnego trybu RampDesigner – przeznaczonego specjalnie do zastosowań spektroskopii siłowej – użytkownik może w łatwy sposób planować złożone eksperymenty. Funkcja ExperimentControl upraszcza konfigurację aparatury, a zdalna kontrola złożonych i długo trwających eksperymentów za pomocą komputera, tabletu, czy smartfona pozwala na stałą obserwację przeprowadzanych doświadczeń. Zastosowanie algorytmów kalibracji i procedur wizualizacji dodatkowo zwiększa komfort pracy.

NanoScience - Wszechstronne badania właściwości materiałów
• Właściwości mechaniczne (lepko-elastyczne, twardość, adhezja, deformacje)
• Właściwości elektryczne (EFM, mikroskopia z sondą Kelvina, STM, mikroskopia z sondą przewodnią)
• Właściwości magnetyczne (MFM)
• Właściwości elektro-optyczne (fotoprzewodząca AFM)
• Właściwości cieplne (skaningowa mikroskopia termiczna )

Opcje kontroli otoczenia próbki
• Podgrzewanie próbki do 300℃
• Ochładzanie próbki do -35℃
• Krio-AFM do -120 (ze stolikiem CryoStage)
• Zdefiniowana wilgotność próbki
• Doskonałe rozwiązanie do eksperymentów przeprowadzanych w cieczach (nawet agresywnych) z zastosowaniem SmallCell
• Eksperymenty z regulowanym przepływem gazów
• Możliwość użycia komory rękawicowej podczas eksperymentów przeprowadzanych w agresywnym środowisku

Szybkie i wydajne uaktualnienia
• Dostępność różnych głowic
• Możliwość wymiany kontrolera Vortis na Vortis Advanced, lub Vortis Combi
• Możliwość rozszerzenia oprogramowania o kolejne moduły
• System posiada największą liczbę akcesoriów i trybów niż jakikolwiek inny system AFM dostępny na rynku, co zapewnia pełną elastyczność dla najrozmaitszych zastosowań

Zachęcamy również do zapoznania się z działem „Baza wiedzy, w którym znajdą Państwo wiele innych, ciekawych informacji.