NanoWizard® ULTRA Speed


NanoWizard UltraSpeed

Najwyższa rozdzielczość i najniższy poziom szumów w najbardziej elastycznym systemie AFM

  • Niezwykle szybki mikroskop AFM (powyżej 300Hz), sprawdzający się w powietrzu i płynie jednocześnie oferujący doskonałą rozdzielczość
  • Atomowa rozdzielczość w sprzężeniu zwrotnym przy najniższym poziomie szumów skanera, sensora pozycji i systemu detekcji

  • System dostarczany jest z trybem QI – Quantitative Imaging mode do ilościowego mapowania właściwości materiału

  • Ulepszone oprogramowanie DirectOverlay

  • Wszechstronny pomiar siły od pojedynczych molekuł aż do żywych komórek

  • Najwyższy poziom elastyczności zapewniony dzięki dostępności dodatkowych trybów i szerokiej gamy akcesoriów

Najnowocześniejsza technologia stworzona z myślą o najwyższej stabilności i najniższym poziomie szumów dla najbardziej dokładnych danych, szczególnie w przypadkach badań przeprowadzanych w cieczach.

NanoWizard ULTRA Speed jest systemem AFM (mikroskopem sił atomowych) ustanawiającym nowy standard w dziedzinie wysokiej rozdzielczości połączonej z szybkością skanowania. Zoptymalizowany system detekcji ugięcia dźwigni (cantilever detection system) posiada najniższy poziom szumu. Szybka elektronika z najwyższą przepustowością i nowocześnie zaprojektowane wzmacniacze zapewniają najdokładniejszą regulację siły, nawet dla próbek o delikatnej strukturze. Zastosowanie technologii zakrzywionego stolika skanera skutkuje całkowicie płaskimi skanami bez efektu łuku. Najbardziej zaawansowana regulacja zamkniętej pętli sprzężenia bazującej na sensorach pojemnościowych daje atomową rozdzielczość i całkowicie eliminuje wszystkie niedokładności wynikające z zastosowania elementów piezo. Głowica skanera została specjalnie zaprojektowana z myślą o pracy w cieczach. Zastosowanie kapsułkowanych piezo napędów w technologii firmy JPK sprawdzonej przy uszczelnianiu głowic skanera za pomocą bariery pary, sprawia że system NanoWizard ULTRA Speed idealnie sprawdza się w przypadkach próbek zanurzonych w cieczy.

Elastyczność i możliwości usprawnienia systemu

Zgodnie z filozofią firmy JPK system cechuje modułowa konstrukcja i solidność wykonania. Doświadczenie i wiedza specjalistyczna firmy JPK zdobyta podczas projektowania systemów AFM działających w cieczach jest szczególnie widoczna w wodoodpornej konstrukcji systemu jak i również w dużej różnorodności dedykowanych i łatwych w czyszczeniu komórek cieczy przeznaczonych do wszelkich zastosowań. Użycie najnowocześniejszej elektroniki kontrolera Vortis gwarantuje pełną swobodę pod względem doboru trybów pomiarowych, dostępu do sygnałów i akcesoriów do elektrochemii, optyki i regulacji warunków otoczenia. W skład dodatkowych akcesoriów jakie można zastosować z systemem NanoWizard ULTRA Speed wchodzą m.in. dodatkowe głowice skanera (ForceRobot, CellHesion 200) czy też stoliki na próbki (CellHesion lub TAO).

Optyczna integracja systemu

Firma JPK od ponad dziesięciu lat łączy ze sobą techniki mikroskopii sił atomowych i mikroskopii optycznej. NanoWizard ULTRA Speed kontynuuje tę ścieżkę integrując metody AFM z mikroskopią odwróconą i optyką klasyczną. (Upright Fluorescence Kit i stacja robocza BioMat). Dzięki zastosowaniu unikalnej konstrukcji ostrza skanera, można w tym samym czasie stosować techniki AFM i zaawansowane metody fluorescencji takie jak: mikroskopia konfokalna, spinning disc, FRET, TIRF, FRAP, FLIM, PALM/STORM, STED i inne. Prawidłowe zastosowanie trybu DirectOverlay umożliwia użytkownikom idealne dopasowanie obu metod.

Szybkość skanowania AFM umożliwiająca obserwację dynamiki obiektu badanego (od pojedynczej molekuły do żywej komórki)

Jednym z najważniejszych wyzwań stawianych dzisiaj przed mikroskopią AFM jest zapewnienie wysokiej rozdzielczości przestrzennej podczas obserwacji dynamiki próbek dla badań w warunkach in situ. System NanoWizard ULTRA Speed w połączeniu ze standardową mikroskopią odwróconą i kondensorami optycznymi umożliwia przeprowadzenie tego typu pomiarów z dużą szybkością skanowania AFM. Oznacza to, że jest już możliwe przeprowadzenie szybkiego skanowania AFM żywych komórek znajdujących się w szalce Petriego, czy badanie dynamiki pojedynczej molekuły. Warunki otoczenia (zmiana temperatury, wymiana gazowa, cieczy, itp.) można regulować w celu wyzwalania eksperymentów i kontrolowania właściwości próbki. Eksperymenty obejmujące przemiany fazowe polimerów, krystalizację, reakcje enzymatyczne, wzrost powłok lub włókienek lub reakcje elektrochemiczne mogą być przeprowadzone w warunkach in situ.

 

więcej…

jpk2

Informacje o produkcie:

Adobe icon Broszura produktu

Adobe icon Broszura akcesoriów

▬ Galeria obrazów

▬ Uwagi techniczne na temat zastosowań

▬ Historie użytkowników

▬ Akcesoria

▬ Inne produkty firmy JPK można znaleźć tutaj

 

Mikroskopia korelatywna AFM i mikroskopia optyczna

Nowoczesne, optyczne techniki super-rozdzielcze, takie jak STED, czy PALM/STORM osiągnęły już rozdzielczość 100nm. System NanoWizard ULTRA Speed osiągnął poziom szybkości skanowania pozwalający zniwelować różnicę szybkości i rozdzielczości jaka istniała pomiędzy tymi metodami. Unikalny tryb DirectOverlay odgrywa istotną rolę dla doskonałej korelacji danych w porównaniu z innymi, komercyjnymi systemami AFM. Udostępniono również narzędzia do nagrywania i obróbki filmów wideo. Wszystko to pozwala osiągnąć wysoki poziom produktywności i sprawia, że system NanoWizard ULTRA Speed jest idealnym rozwiązaniem zarówno w przypadkach zaawansowanych eksperymentów jak i rutynowych badań.

Tryby standardowe
Tryby obrazowania (w powietrzu lub cieczy):
• Tryb kontaktowy z mikroskopią sił lateralnych (LFM)
• Tryby AC z detekcją fazy
• Tryb obrazowania krzywej siłowej - QI (w powietrzu lub cieczy)
Pomiar siły (w powietrzu lub cieczy)
• Spektroskopia statyczna i dynamiczna
Tryby dodatkowe
• Zaawansowany tryb QI (w powietrzu i cieczach)
- Właściwości mechaniczne, takie jak: adhezja, elastyczność, sztywność, deformacja
- Mapowanie przewodności
- Obrazowanie punktu kontaktowego (CPI)
• HyperDrive
• Zaawansowane tryby AC, takie jak: modulacja częstotliwości i fazy z Q-control
• Zaawansowana spektroskopia sił
• Obrazowanie wyższej harmonicznej
• Mikroreologia
• Mikroskopia z sondą Kelvina i SCM
• MFM i EFM
• AFM z sondą przewodzącą (zobacz również: tryb QI)
• STM
• Tryby spektroskopii elektrycznej
• Spektroskopia piezo-responsywna (PFM)
• Kontrola termiczna i elektrochemiczna wraz z mikroskopią optyczną
• NanoLitografia i NanoManipulacja
• Nanoindentacja
• Skaningowa mikroskopia termiczna AFM
• ExperimentPlanner do planowania przepływu pracy pomiarów
• RampDesigner
• DirectOverlay do łączonej mikroskopii optycznej i AFM
• Możliwość poruszania próbką w osiach xy dzięki modułom: CellHesion, lub TAO

Zachęcamy również do zapoznania się z działem „Baza wiedzy”, w którym znajdą Państwo wiele innych, ciekawych informacji.