MeasLine - unikalne i standardowe rozwiązania badawcze i przemysłowe.
MeasLine - unikalne i standardowe rozwiązania badawcze i przemysłowe.
MENU
MENU
Strona główna
Produkty
Mikroskopy sił atomowych AFM
O nanoanlytik GmbH
nanoMETRONOM
AFM in SEM
Scanning probe lithography
Single ion implanter
Atto scale mass detection
Probes
Kronos controller
Systemy nanoszenia warstw
• Seria HV
• Seria UHV
• Komora załadowcza
• Systemy wielokomorowe
• Parowniki, źródła, krakery, komórki efuzyjne, magnetrony
Pomiary optyczne
• MTF - Pomiar funkcji przenoszenia modulacji
• OHM 150 - Pomiar wysokości
• COMEF - System przetwarzania obrazu
• MR 200 - Nacinacz wafli krzemowych
• DGMS – System pomiarowy geometrii ciągadeł
• DIM i DDI - Inspekcja wizualna i pomiary ciągadeł
• RINGMASTER - Pomiar matryc, przewężeń, itp.
Pomiar geometrii
• FLATSCAN - Bezkontaktowe pomiary powierzchni
• CAS - Pomiar płaskości powierzchni
• ELCOWIN - Optyczna kontrola jakości
Analiza powierzchni
• STREAM SPM
• Niskotemperaturowy SPM
• Rozwiązania Sigma ESCA
Analiza cienkich warstw
• Seria FR
• Seria PM
Kąt zwilżania
• SURFTENS HL
• SURFTENS AUTOMATIC
• SURFTENS UNIVERSAL
Testowanie soczewek
• OTS - Testowanie soczewek
• OTS-Z - Testowanie soczewek cylindrycznych
Komponenty próżniowe
• Komponenty próżniowe
Czyszczenie powierzchni
• Oczyszczacze plazmowe
Rozwiązania MeasLine
• System nanoszenia cienkich warstw współpracujący z komorami rękawicowymi
Opracowania i projekty
• Nowatorskie opracowania
• Projekty na życzenie
Szkolenia
• Szkoła Techniki Próżniowej
• Technika próżniowa
Usługi
Baza wiedzy
Analiza grubości warstw
• Interferometria Światła Monochromatycznego
• Metodyka pomiarów optycznych
• Spektroskopia Odbitego Światła Białego
Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
• Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
Mikroskopia sił atomowych
• Mikroskopia Sił Atomowych
• Spektroskopia Ramanowska, SERS, TERS
MeasLine
O firmie MeasLine
Wyróżnienia i nagrody
Aktualności
Kontakt
Seria QUBE – Systemy nanoszenia cienkich warstw
Przepraszamy strona w budowie
[/ezcol_1half]
Strona główna
Produkty
Mikroskopy sił atomowych AFM
O nanoanlytik GmbH
nanoMETRONOM
AFM in SEM
Scanning probe lithography
Single ion implanter
Atto scale mass detection
Probes
Kronos controller
Systemy nanoszenia warstw
• Seria HV
• Seria UHV
• Komora załadowcza
• Systemy wielokomorowe
• Parowniki, źródła, krakery, komórki efuzyjne, magnetrony
Pomiary optyczne
• MTF – Pomiar funkcji przenoszenia modulacji
• OHM 150 – Pomiar wysokości
• COMEF – System przetwarzania obrazu
• MR 200 – Nacinacz wafli krzemowych
• DGMS – System pomiarowy geometrii ciągadeł
• DIM i DDI – Inspekcja wizualna i pomiary ciągadeł
• RINGMASTER – Pomiar matryc, przewężeń, itp.
Pomiar geometrii
• FLATSCAN – Bezkontaktowe pomiary powierzchni
• CAS – Pomiar płaskości powierzchni
• ELCOWIN – Optyczna kontrola jakości
Analiza powierzchni
• STREAM SPM
• Niskotemperaturowy SPM
• Rozwiązania Sigma ESCA
Analiza cienkich warstw
• Seria FR
• Seria PM
Kąt zwilżania
• SURFTENS HL
• SURFTENS AUTOMATIC
• SURFTENS UNIVERSAL
Testowanie soczewek
• OTS – Testowanie soczewek
• OTS-Z – Testowanie soczewek cylindrycznych
Komponenty próżniowe
• Komponenty próżniowe
Czyszczenie powierzchni
• Oczyszczacze plazmowe
Rozwiązania MeasLine
• System nanoszenia cienkich warstw współpracujący z komorami rękawicowymi
Opracowania i projekty
• Nowatorskie opracowania
• Projekty na życzenie
Szkolenia
• Szkoła Techniki Próżniowej
• Technika próżniowa
Usługi
Baza wiedzy
Analiza grubości warstw
• Interferometria Światła Monochromatycznego
• Metodyka pomiarów optycznych
• Spektroskopia Odbitego Światła Białego
Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
• Kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe
Mikroskopia sił atomowych
• Mikroskopia Sił Atomowych
• Spektroskopia Ramanowska, SERS, TERS
MeasLine
O firmie MeasLine
Wyróżnienia i nagrody
Aktualności
Kontakt
