Połączenie Spektroskopii Ramana i AFM


Systemy z serii NanoWizard są urządzeniami przystosowanymi do łączenia spektroskopii Ramana z NanoWizard 4 NanoOptics AFM. Pozwala to na bezpośrednią integrację metod AFM i spektroskopii Ramana bez spadków w wydajności i możliwości badawczych żadnej z technik.

Połączenie spektroskopii Ramana i NanoWizard 4 NanoOptics AFM pozwala na jednoczesną korelację danych wynikowych obu technik. Konwencjonalna spektroskopia Ramana wraz z NanoWizard 4 NanoOptics AFM umożliwia połączenie informacji chemicznych z właściwościami powierzchni uzyskanymi za pomocą AFM. W celu przeprowadzenia analizy o najwyższym rozkładzie przestrzennym w przedziale nanometrowym, TERS wykorzystuje wzmacniające cechy plazmonów powierzchniowych ostrza skanera w spektroskopii Ramana. Pokryte metalem ostrze AFM/STM jest wykorzystywane jako wzmacniacz pola podczas skanowania próbki. W rezultacie otrzymuje się wzmocniony sygnał Ramana o rozdzielczości lateralnej zbliżonej do średnicy końcówki ostrza oraz informacje o powierzchni uzyskane za pomocą ostrza NanoWizard 4 NanoOptics AFM.

Kluczowe komponenty i podstawowe parametry eksperymentów Ramana/TERS/BIOTERS
Kombinacja ostrza i skanera próbki
• Głowica NanoWizarda (3 osie skanowania) i moduł skanera próbek TAO (2 lub 3 osie skanowania) zmocowany na mikroskopie odwróconym, zintegrowane ze spektroskopem Ramana
Tłumienie przesłuchów optycznych pomiędzy AFM i sygnałem/wzbudzeniem Ramana
• Źródło lasera AFM - 980nm
• Filtry blokujące i czyszczące w głowicy AFM
Długotrwała stabilność AFM
• Wysoka wydajność skanerów w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego, oraz symetryczny design stolika i głowicy AFM
• Komórki cieczy oparte na szkiełku nakrywkowym z regulacją temperatury i i wymiana cieczy dla najwyższej stabilności w połączeniu z obiektywami immersyjnymi
Integracja systemu
• Synchronizacja pomiędzy ostrzem AFM i pozycją próbki wraz z oprogramowaniem firmy JPK do rejestracji sygnału Ramana
• Sprawdzony algorytm firmy JPK do wyszukiwania idealnej pozycji ostrza w zakresie ostrości obiektywu o wysokiej aperturze numerycznej (high-NA)
Elastyczność
• Duża różnorodność trybów operacji AFM/SPM
• Zaawansowany kontroler Vortis z najwyższą szybkością i najniższym poziomem szumów o dużej liczbie kanałów dostępnych z przedniego panelu Signal Access
• Łatwe w użyciu, w pełni funkcjonalne oprogramowanie firmy JPK do zaawansowanych eksperymentów idealne zarówno dla zaawansowanych jak i początkujących użytkowników
• Raman Reflector Kit dla zastosowań TERS w przypadkach próbek nieprzezroczystych

Inne produkty firmy JPK można znaleźć tutaj.

Zachęcamy również do zapoznania się z działem „Baza wiedzy”, w którym znajdą Państwo wiele innych, ciekawych informacji.