Analiza cienkich warstw – Urządzenia PM


Analiza cienkich warstw

Thetametrisis koncentruje się na projektowaniu i produkcji optycznych urządzeń pomiarowych do określania parametrów układów cienkich i grubych warstw, takich jak grubość, współczynnik odbicia, absorpcji, transmisji, oraz współczynnik Hazego. Inne produkty firmy ThetaMetrisis S.A. można znaleźć tutaj.

 

 

URZADZENIA SERII PM

PM – QE jest modułowym układem do określania własności wszystkich typów ogniw słonecznych takich jak wydajności kwantowej fotogeneracji, grubości poszczególnych warstw w układzie wielowarstwowym  i innych parametrów. Źródło światła zawarte w układzie PM-QE emituje światło od długościach fal w zakresie 300 – 1100 nm dając możliwość badań fotoogniw zarówno z dużą jak i małą przerwą energetyczną.

więcej…

 

 

 

 

Thetametrisis2

Urządzenia analizy cienkich warstw serii PM

PM-haze

PM – Haze pozwala na dokładne pomiary transmisji całkowitej (TT) i dyfuzyjnej (DT) w widmie w zakresie od 400 do 900 nm dla układów wielowarstwowych naniesionych na szkło lub krzem. Z tych wartości można obliczyć parametr mętności (Haze) określony równaniem:

Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)

 

PM-Haze jest całkowicie modularnym i rozszerzalnym urządzeniem pomiarowym, którego konfiguracja zapewnia długą żywotność  i wysoką jakość pomiarową.

więcej…

 

Zachęcamy również do zapoznania się z działem „Baza wiedzy”, w którym znajdą Państwo wiele innych, ciekawych informacji.