logo_head
Ue Efrr
FR-Scanner wraz z monitorem prezentującym rozkład punktów pomiarowych podczas skanowania wraz z wynikami pomiarów

FR-Scanner

FR-Scanner to narzędzie do automatycznej charakterystyki warstw, powłok, błon o dużych powierzchniach. Urządzenie umożliwia szybkie  tworzenie mapowanie powierzchni pod względem grubości, współczynnika załamania światła, jednorodności, koloru itp. podłoża o dowolnej średnicy/kształcie mogą być umieszczane w uchwycie próżniowym.

Najważniejsze cechy urządzenia FR-Scanner

    • Przeznaczony do mapowania dużych powierzchni
    • Szybkie skanowanie (625 punktów w minutę)
    • Duża dokłaność i powtarzalność pomiarów
    • Długa żywotność źródła światła

    Specyfikacja:

      Rozmiar próbki

       

      Wafery 2″, 3″,4″. 6″, 8″, 300 mm

      Również podłoża o nieregularnych kształtach 

      Rozmiar plamki

      360 μm

      Rozdzielczość kontowa

      1°

      Minimalna grubość dla jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika odbicia 100 nm
      Zakres grubości 20 nm-80 μm
      Precyzja pomiaru

      0,06 nm

      Stabilność pomiaru 0,06 nm
      Dokładność pomiaru

      1 nm

      Prędkość skanowania

      625 pomiarów/min dla podłoża 8″

      Komputer

      Dowolny PC obsługujący system Windows 7/8/10 64 bit

      Baza danych

      Ponad 650 różnych materiałów

      Wymiary Szerokość x Długość x Wysokość 485 x 457 x 500 mm
      Zakres spektralny VIS/NIR (370-1020 nm)
      Specyfikacja spektrometru 3648 pixeli
      Źródło Światła MTBF 10000 h

      W ofercie znajdują się również inne urządzenia z serii FR, w tym modułowy FR-pRo posiadający możliwość dostosowania do wymagań użytkownika poprzez dobór akcesoriów, czy też przenośny FR-pOrtable. Zachęcamy do zapoznania się z szeroką gamą produktów serii FR firmy Thetametrisis.