Pomiar grubości cienkich warstw i wielowarstw
tj. warstw o grubościach od pojedynczych nanometrów aż do mikrometrów.
Urządzenia firmy Thetametrisis, która koncentruje się na projektowaniu i produkcji optycznych urządzeń pomiarowych do wyznaczania właściwości cienkich warstw, takich jak grubość, współczynnik odbicia, absorpcja, transmisja, oraz współczynnik Hazego. Zarówno pomiar grubości warstw jak i innych właściwości powłok realizowany jest na postawie analizy oddziaływania wiązki światła białego z powierzchnią (spektroskopia odbicia światła białego WLRS).
W ofercie znajduje się laboratoryjna, aparatura nabiurkowa, urządzenia przenośne, dostosowane do mikroskopów optycznych, a także uproszczona, edukacyjna wersja urządzenia do pomiaru grubości warstw. Wysokiej jakości sprzęt charakteryzuje się optymalną ceną, a modułowa budowa urządzenia umożliwia jego sukcesywną rozbudowę. Szeroki wybór akcesoriów dodatkowych umożliwia zwiększenie funkcjonalności oferowanej aparatury.
Zapraszamy do zapoznania się z filmem prezentującym ofertę firmy Thetametrisis.
Zachęcamy także do zapoznania się naszymi systemami do nanoszenia cienkich warstw technikami PVD (fizycznego osadzania z fazy gazowej).
FR-pRo
Narzędzie, umożliwiające pomiary w zakresie charakterystyki nanowarstw i mikrowarstw (grubości, właściwości optycznych, absorbancji, fluorescencji, odbicia).
FR-pOrtable
Przenośne urządzenie dla dokładnych i precyzyjnych pomiarów wielkości optycznych warstw przeźroczystych i półprzeźroczystych, a także układów wielowarstwowych.
FR–μProbe
Urządzenie umożliwiające charakteryzowanie nano- i mikrowarstw, w tym pomiar grubości warstw, za pomocą dowolnego trójokularowego mikroskopu optycznego.
FR-Scanner
Optymalne rozwiązaniem pozwalającym skanowanie dużego obszaru powierzchni w celu jej scharakteryzowania pod względem grubości, właściwości optycznych i chropowatości.
FR-Mic
Kolumna optyczna przeznaczona charakteryzowania warstw z rozmiaru małej plamki rzędu kilku mikrometrów.
FR-Education
Uproszczona wersja FR – pRo, idealna dla uniwersyteckich pracowni kształcących studentów.
Akcesoria dodatkowe
Istnieje możliwość wyboru dodatkowego wyposażenia umożliwiającego m.in. pomiar właściwości cieczy, ogrzewanie próbki, pomiar refelektancji czy też pomiar grubości substratu przy użyciu dowolnego trójokularowego mikroskopu optycznego.
