logo_head
Ue Efrr
Powrót do podkategorii

nanoMETRONOM

Urządzenie nanoMETRONOM jest kompaktowym i prostym w obsłudze mikroskopem sił atomowych, którego działanie jest oparte o zastosowanie aktywnych, piezorezystywnych próbników. System ten pozwala na analizę powierzchni różnorodnych materiałów, posiadając jednocześnie możliwość rozbudowania o dodatkowe funkcje takie jak litografia, mikroskopia sił magnetycznych (MFM) i inne. Aktywne próbniki mogą stanowić także czujniki charakteryzujące się dużą czułością w detekcji substancji chemicznych i biologicznych.

 

Najważniejsze cechy urządzenia nanoMETRONOM

  • Przeznaczony zarówno do zastosowań przemysłowych jak i naukowych
  • Łatwy w użyciu przy zachowaniu pełnej funkcjonalności
  • Solidny i niezawodny
  • Wysoki poziom automatyzacji
  • Prosta wymiana próbnika
  • Dedykowany do różnorodnych zastosowań w materiałoznawstwie, badaniach nad materiałami półprzewodnikowymi i litografii, w analizie cienkich warstw, zarówno miękkich polimerów i powłok jak również twardych układów metalicznych i ceramicznych, a także do aplikacji biologicznych.

nanoMETRONOM

Specyfikacja:

    Środowisko pracy Ciecze i gazy
    Tryby Pracy

    Tryb bezkontaktowy (Topografia, Przesunięcie Fazowe, Sygnał błędu)

    Tryb kontaktowy

    Tryb spektroskopii (Krzywe siła-odległość)

    Inne tryby na życzenie (Conductive AFM (C-AFM), Kelvin probe force microscopy (KPFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Litografia, Scanning Spread Resistance Microscope (SSRM) i inne).
    Kanały 2
    Rozdzielczość cyfrowa 18 Bitów (rzeczywista rozdzielczość bez szumów)
    Przepustowość kontrolera Min. 5 MHz
    Skaner

    Górny skaner wyposażony w piezorezystywne czujniki położenia.

    Możliwe również umieszczenie dolnego skanera.
    Rozdzielczość pozycjonowania

    Przy zamkniętej pętli (closed-loop) X,Y : 1 nm; z: 0,3 nm

    Przy otwartej pętli (open-loop): Co najmniej 5-krotnie wyższa
    Zakres ruchu (X, Y, Z)

    35 μm x 35 μm x 10 μm

    Opcjonalnie: 100 μm x 100 μm x 30 μm

    Inne zakresy na życzenie.
    Dolny pozycjoner zgrubny

    Ręczny mikropozycjoner

    Zmotoryzowane pozycjonowanie stolikiem na życzenie.

    Zakres ruchu (X, Y): min 10 mm

    Wyposażony w  4” wafer

    Możliwość zamontowania niestandardowych uchwytów na życzenie.
    Kamera i optyka

    System zawiera kamerę USB do optycznej nawigacji próbek oraz optyczną konfigurację do regulacji powiększenia.

    Rozdzielczość boczna: 2 μm
    Oprogramowanie Standardowe oprogramowanie nano analytik do AFM.
    Aktywna izolacja drgań Stolik antywibracyjny w zestawie.