logo_head
Ue Efrr
Powrót do podkategorii

FR-Mic

FR-Mic to narzędzie umożliwiające punktową (rozmiaru małej plamki) analizę grubości i właściwości optycznych powierzchni. Urządzenie może być umieszczone na FR-pRo, lub w jego pobliżu. Może być ponadto uzupełnione o stolik XY pozwalający na kontrolowane, z poziomu komputera, poruszanie próbką, umożliwiające mapowanie powierzchni. 

Najważniejsze cechy urządzenia FR-Mic

    • Pomiar grubości i właściwości optycznych z obszaru małej plamki
    • Przeznaczone do pracy z FR-pRo
    • Umożliwia pomiary spektroskopowe w czasie rzeczywistym
    • Obrazowanie przy użyciu zintegrowanej, kolorowej kamery o wysokiej rozdzielczości z połączeniem USB 
    FR-Mic

    Specyfikacja dla poszczególnych zakresów spektralnych:

     
    Model UV/Vis UV/NIR -EXT UV/NIR-HR D UV/NIR VIS/NIR D Vis/NIR NIR NIR-N2
    Zakres spektralny [nm] 200-850 200-1020 200-1100 200-1700 370-1020 370-1700 900-1700 900-1050
    Piksele Spektrofotometru 3648 3648 3648 3648 i 512 3648 3648 i 512 512 3648
    Grubość minimalna dla pomiaru parametrów n i k 50 nm 50 nm 50 nm 50 nm 100 nm 100 nm 500 nm
    Dokładność 1 nm / 0,1% 1 nm / 0,1% 1 nm / 0,1% 1 nm / 0,1% 2 nm / 0,2% 2 nm / 0,2% 50 nm / 0,2% 50 nm/ 0,2%
    Precyzja 0,02 nm 0,02 nm 0,02 nm 0,02 nm 0,02 nm 0,02 nm 5 nm 5 nm
    Stabilność 0,05 nm 0,05 nm 0,05 nm 0,05 nm 0,05 nm 0,05 nm 5 nm 5 nm
    Źródło światła Deuterowo-halogenowe Deuterowo-halogenowe Deuterowo-halogenowe Deuterowo-halogenowe Halogenowe 10000 h Halogenowe 10000 h Halogenowe 10000 h Halogenowe 10000 h
      Specyfikacje zależne od rodzaju obiektywu:

      Rozmiar obszaru pomiaru:

      Obiektyw Rozmiar plamki (μm)
      Apertura 500 μm 250 μm 100 μm
      5x 100 μm 50 μm 20 μm
      10x 50 μm 25 μm 10μm
      20x  25 μm 17 μm 5 μm
      50x 10 μm 5 μm 2 μm

      Zakres grubości jest zależny od zastosowanego obiektywu oraz zakresu spektralnego

      Obiektyw UV/Vis UV/NIR -EXT UV/NIR-HR D UV/NIR VIS/NIR D Vis/NIR NIR NIR-N2
      5x- Vis/NIR 4 nm-60 μm 4 nm-70 μm 4 nm-90 μm 4 nm-150 μm 15 nm-90 μm 15 nm-150 μm 100 nm-150 μm 4 μm-
      1mm (SiO2)
      400 μm max (Si)
      10 x Vis/NIR lub UV-NIR 4 nm-50 μm 4 nm-60 μm 4 nm-80 μm 4 nm-130 μm 15 nm-80 μm 15 nm-130 μm 100 nm-130 μm –
      15x UV-NIR 4 nm-40 μm 4 nm-50 μm 4 nm-50 μm 4 nm-120 μm – – – –
      20x Vis/NIR lub UV/NIR 4 nm-25 μm 4 nm-30 μm 4 nm-30 μm 4 nm-50 μm 15 nm-30 μm 15 nm-5 μm 100 nm-50 μm –
      40x UV/NIR 4 nm-4 μm 4 nm-4 μm 4 nm-5 μm 4 nm-6 μm – – – –
      50x Vis/NIR – – – – 15 nm-5 μm 15 nm-5 μm 100 nm-5 μm –

      * obiektywy UV/NIR są refleksyjne

      Zobacz więcej na stronie producenta

      W ofercie znajdują się również inne urządzenia z serii FR, w tym modułowy FR-pRo posiadający możliwość dostosowania do wymagań użytkownika poprzez dobór akcesoriów, dostosowany do pomiarów za pomocą dowolnego trójokularowego mikroskopu optycznego FR-μProbe, czy też zoptymalizowany pod kątem skanowania dużej powierzchni FR-Scanner. Zachęcamy do zapoznania się z szeroką gamą produktów serii FR firmy Thetametrisis.