logo_head

Mikroskopy sił atomowych z próbnikami piezorezystywnymi

Mikroskopy Sił Atomowych wyróżniają się zastosowaniem piezorezystywnych (tzw. aktywnych) próbników. Umożliwiają one precyzyjną kontrolę wychyleń dźwigni nie wymagając zastosowania układu optycznego śledzącego przemieszczanie się lasera. Brak układu optycznego znacząco ułatwia pomiar, a ustawienia nie wymagają korygowania pomiędzy kolejnymi skanowaniami. Oferowane mikroskopy są produkowane przez firmę Nano analytik GmbH.

Zalety:

-łatwość pomiaru

-duża stabilność pracy

-wysoki poziom automatyzacji pomiaru

-mały rozmiar urządzenia

Oferowane systemy umożliwiają:

-obrazowanie powierzchni

-pomiar właściwości mechanicznych

-pełną integrację ze skaningowym mikroskopem elektronowym

-wykrywanie chemicznych i biologicznych substancji

-precyzyjną i nieniszczącą litografię

nanoMETRONOM

kompaktowe urządzenie AFM o wszechstronnych zastosowaniach

AFMinSEM

AFM dostosowany do jednoczesnej pracy z SEM

canti_bottom_labelled-1024×1024

Próbniki piezorezystywne

Aktywne próbniki umożliwiające pomiary AFM, którego wzbudzanie jest kontrolowane za pomocą siłownika termomechanicznego, natomiast wychylenia są rejestrowane przez piezorezystywny mostek  Wheatstone’a.

Scanning Probe Lithography (SPL)

wykorzystanie sondy skanującej do tworzenia struktur z rozdzielczością poniżej 5 nm

Single Dopant Lithography (AFM-SDL)

precyzyjna implantacja pojedynczego atomu

Multi-Plattform UHV System (AFM-MPS)

kombinacja technik AFM z AES i XPS do kompleksowej analizy powierzchni

Komora akustyczna

przeznaczona do wygłuszania drgań podczas pomiarów AFM